yritimme selvittää, aiheuttaako mekaaninen jännitys ja sähköinen jännitys pari kalvojen hajoamista soluissa. Käyttämällä hek293-solujen soluihin kiinnitettyjä laastareita arvioimme laastarin paineesta ja geometriasta mekaanisesti aiheutuvan jännityksen. Jännitepulsseja, joiden amplitudi kasvaa, sovellettiin, kunnes havaitsimme konduktanssin ja kapasitanssin äkillisen lisääntymisen. 50 µs: n kestävillä pulsseilla hajoamista vaadittiin >0,5 V ja se riippui jännityksestä. Kestoltaan 50-100 ms: n pulsseilla hajoaminen vaati 0,2–0,4 V ja oli jännityksestä riippumaton. Ilmeisesti kaksi fyysisesti erilaista prosessia voi johtaa kalvon hajoamiseen. Voisimme selittää vastauksen lyhyille, korkeajännitteisille pulsseille, jos lipidikaksikerroksessa tapahtuu hajoaminen. Lyhyillä pulsseilla tapahtuvaan hajoamiseen tarvittava kriittinen sähkömekaaninen energia pinta-alayksikköä kohti oli ∼4 dyne/cm, mikä on sopusoinnussa aikaisempien kaksikerroksisten tulosten kanssa. Tietomme viittaavat siihen, että ainakin laastarissa kaksikerroksisessa voi olla merkittävä osuus (∼40%) keskimääräisestä jännityksestä. Jotta kaksikerros olisi yhteensopiva laikkujen suurten, epänlyyttisten aluemuutosten kanssa, se näyttää vetävän pipetin kärkeä kohti, kenties laseihin sitoutuneiden hydrofobisten voimien kostuttaessa kalvoproteiineja. Vaikka pitkien pulssien hajoamisjännitteet olivat yhtäpitäviä aiemman levää koskevan työn kanssa, tämän jakautumisen mekanismi(mekanismit) on edelleen epäselvä.